簡要介紹
TH2638系列高速精密電容測量儀是具有更高測試頻率的新型數字(zi)電(dian)容(rong)測(ce)量(liang)儀器(qi)，其體(ti)積(ji)小，緊湊便攜，便于上架使用。該儀器(qi) 測(ce)量(liang)電(dian)容(rong)基本精度為±0.07%，損耗精度高達0.0005，測試頻率 最高可(ke)達1MHz，4.3寸(cun)的(de)LCD屏幕可(ke)選中英文操(cao)作(zuo)界面，操(cao)作(zuo)方便 快捷。TH2638系列可以為陶瓷電容器生產測試提供高速、可靠的 測量。該儀器能夠精確測量從低值到高值的各類電容。在對同一 個電容器進行多次測量的結果一致性好，即使是很低的電容值也 可以很精確地測量出來。該儀器兼容SCPI命令集，帶有機械手接 口(kou)(kou)和掃描器接口(kou)(kou)，掃描接口(kou)(kou)可逐個(ge)的對各個(ge)測(ce)試通道(dao)到(dao)開路(lu)/短 路/負載誤差校正進行掃描，最多可以掃描256個通道。在低頻時 儀器內部帶有信號電平補償功能，當被測件阻抗很小時，信號源 內阻和測試線纜將會引起被測件兩端的電壓低于設定電壓范圍， 使用信號電平補償功能就會(hui)調整被測件(jian)上的電平到(dao)設定值范圍內。
特別針對(dui)生產線測試上增加(jia)了對(dui)不良接觸(chu)的(de)檢(jian)查(cha)功(gong)能(neng)，其(qi)能(neng)夠 發(fa)現被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)件與測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)之間可能出現的(de)不良接(jie)觸，無需額外的(de) 時(shi)間來執行此操作；在(zai)與實(shi)際測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)保持同(tong)步的(de)信號源功(gong)能，其只(zhi) 有在(zai)進行真測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)的(de)時(shi)候才把測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)信號施(shi)加到被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)件上(shang)，在(zai)放置(zhi) 和取下被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)件的(de)瞬間不會給被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)件施(shi)加測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)信號，這樣就顯 著(zhu)的(de)降低了在(zai)接(jie)觸不良的(de)情況下較大(da)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)電流對測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)夾具或(huo)觸點(dian) 的蝕損；當測(ce)試頻率為(wei)1MHz時，可對測(ce)試頻率進行偏移設置（偏 移值為±1%，±2%）這(zhe)一功(gong)能在陣列式電容器(qi)測(ce)(ce)試(shi)系統中(zhong)可(ke)(ke)(ke)消 除相鄰測(ce)(ce)量終端(duan)受到(dao)干(gan)擾，還(huan)可(ke)(ke)(ke)以降低測(ce)(ce)量結果的(de)波動。儀器(qi)還(huan) 帶(dai)有料箱分類功(gong)能，可(ke)(ke)(ke)以按照(zhao)產品的(de)質量設置9個料箱根據C-D/ Q/R/G的(de)測(ce)(ce)試(shi)結果確定產品合(he)格與不(bu)合(he)格，并放入不(bu)同(tong)等級到(dao)料箱內。
性能特點
■ 4.3寸TFT液晶顯示(shi)
■ 中英文可選操作界(jie)面
■ 最(zui)高1MHz的測(ce)試(shi)頻率
■ 最高測試(shi)速(su)度：2.3ms/次
■ 測試電容基本精(jing)度±0.07%
■ 損耗因數：±0.0005
■ V、I 測(ce)試(shi)信號電平監視功能(neng)
■ 低阻抗測試，信號電(dian)平補償(chang)功能
■ 內建比較(jiao)器(qi)，11檔分選
■ 內部文(wen)(wen)件存儲和外(wai)部U盤文(wen)(wen)件保存
■ 測(ce)量數據(ju)可直接保存到U盤
■ 截屏保存到U盤
■ 兼容SCPI命令集
■ RS232C、USB CDC、LAN、HANDLER、GPIB接口
■ HANDLER接(jie)口、SCANNER接(jie)口
■ 接觸(chu)檢查(cha)功能(neng)
■ 同步(bu)信號(hao)源
■ 1MHz時的測試頻率(lv)帶有偏移功能（±1%，±2%）