簡要介紹

TH2638系列高速精密電容測量儀是具有更高測試頻率的新型數字(zi)電(dian)(dian)容測量儀器，其體積小，緊(jin)湊便攜(xie)，便于(yu)上架使用。該儀器 測量電(dian)(dian)容基本精(jing)度(du)為±0.07%，損耗精度高達0.0005，測試頻率 最高可(ke)達(da)1MHz，4.3寸的LCD屏幕(mu)可(ke)選中(zhong)英(ying)文操(cao)作(zuo)界(jie)面，操(cao)作(zuo)方便 快捷。TH2638系列可以為陶瓷電容器生產測試提供高速、可靠的 測量。該儀器能夠精確測量從低值到高值的各類電容。在對同一 個電容器進行多次測量的結果一致性好，即使是很低的電容值也 可以很精確地測量出來。該儀器兼容SCPI命令集，帶有機械手接 口和掃描器接口，掃描接口可(ke)逐個(ge)的對各個(ge)測試通道到開路(lu)/短(duan) 路/負載誤差校正進行掃描，最多可以掃描256個通道。在低頻時 儀器內部帶有信號電平補償功能，當被測件阻抗很小時，信號源 內阻和測試線纜將會引起被測件兩端的電壓低于設定電壓范圍， 使用(yong)信號電平(ping)補償功能就會調整被測件上的電平(ping)到設定值范圍內。

特別(bie)針(zhen)對生產線測(ce)試上增加(jia)了對不良接觸的檢查功能(neng)，其能(neng)夠 發現被測(ce)器件(jian)與測(ce)試(shi)儀器之間(jian)可能出(chu)現的不(bu)(bu)良接觸(chu)，無需額(e)外的 時間(jian)來執(zhi)行此(ci)操(cao)作；在與實際測(ce)試(shi)保(bao)持同步的信號(hao)(hao)源功能，其只(zhi) 有在進(jin)行真測(ce)試(shi)的時候才把測(ce)試(shi)信號(hao)(hao)施加(jia)到被測(ce)器件(jian)上，在放置 和取下被測(ce)器件(jian)的瞬間(jian)不(bu)(bu)會給被測(ce)器件(jian)施加(jia)測(ce)試(shi)信號(hao)(hao)，這樣就顯 著的降(jiang)低了在接觸(chu)不(bu)(bu)良的情況下較大測(ce)試(shi)電流對測(ce)試(shi)夾具或(huo)觸(chu)點(dian) 的蝕損(sun)；當(dang)測(ce)試(shi)頻(pin)率為1MHz時，可對測(ce)試(shi)頻(pin)率進(jin)行(xing)偏移設置（偏 移值為(wei)±1%，±2%）這一功能(neng)在陣列式電容器測(ce)試系(xi)統中(zhong)可(ke)消 除(chu)相鄰測(ce)量終端(duan)受到干擾，還可(ke)以(yi)降低測(ce)量結(jie)果的(de)波(bo)動(dong)。儀器還 帶有料箱分類功能(neng)，可(ke)以(yi)按(an)照產品的(de)質(zhi)量設置9個料箱根據C-D/ Q/R/G的(de)測(ce)試結(jie)果確(que)定(ding)產品合(he)格與不合(he)格，并放入(ru)不同(tong)等(deng)級(ji)到料箱內。

性能特(te)點

■ 4.3寸TFT液晶(jing)顯示(shi)

■ 中(zhong)英(ying)文可(ke)選操作界面

■ 最高1MHz的測試頻率(lv)

■ 最高測試速度：2.3ms/次

■ 測試電容基本精度±0.07%

■ 損耗(hao)因數：±0.0005

■ V、I 測試信號電平(ping)監視功能

■ 低阻抗(kang)測試，信號電平(ping)補(bu)償(chang)功能

■ 內建比(bi)較器，11檔分選(xuan)

■ 內(nei)部(bu)文件存儲和外部(bu)U盤文件保存

■ 測量數據可直接保存(cun)到U盤(pan)

■ 截屏保存到U盤(pan)

■ 兼(jian)容SCPI命令集(ji)

■ RS232C、USB CDC、LAN、HANDLER、GPIB接口

■ HANDLER接口、SCANNER接口

■ 接觸(chu)檢查功能

■ 同步信號源(yuan)

■ 1MHz時的測試頻率帶有偏移功能（±1%，±2%）