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  • 電子器件噪(zao)聲分(fen)析儀XC3020

  • 產品編號：06815
  • 產品名稱：電子(zi)器件噪聲分析儀(yi)
  • 產品型號：XC3020
  • 訂貨編號：
  • 市 場 價：¥180000.00
  • 促 銷 價：
  • 狀    態：
  • 產    地：天(tian)津(jin)
  • 簡要參數：
    電(dian)子器(qi)件噪(zao)聲分(fen)析(xi)儀，測量半導體(ti)分(fen)立器(qi)件和(he)(he)集(ji)成電(dian)路和(he)(he)低頻至超(chao)低頻噪(zao)聲參(can)數(shu)，根據噪(zao)聲頻譜(pu)分(fen)析(xi)和(he)(he)實踐波(bo)形分(fen)析(xi)，檢測半導體(ti)分(fen)立器(qi)件和(he)(he)集(ji)成電(dian)路的潛在缺陷，對(dui)其可靠性進行加嚴(yan)篩選和(he)(he)故障(zhang)診斷(duan)，對(dui)壽命(ming)及環境應(ying)力適應(ying)性進行預估。
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產品介(jie)紹

XC3020電(dian)子(zi)器件噪聲分析(xi)儀
噪(zao)聲測(ce)(ce)試：測(ce)(ce)量半導體分立器件和集成電路(lu)的低(di)頻至超低(di)頻噪(zao)聲參數，測(ce)(ce)試范(fan)圍(wei)和精度滿足國家標準(zhun)、國家軍用標準(zhun)以及行業標準(zhun)的相應產品技術規范(fan)。
可(ke)(ke)靠性(xing)分析：根據噪聲(sheng)頻譜分析和時間波形分析，檢測半(ban)導體分立器件和集成電(dian)路的潛在缺陷，對其(qi)可(ke)(ke)靠性(xing)進(jin)(jin)行加嚴篩選和故障診(zhen)斷(duan)，對壽命及環境應力(li)適應性(xing)進(jin)(jin)行預估(gu)。
分立(li)器件：電(dian)壓(ya)基準和調(diao)壓(ya)二(er)極管(guan)(guan)，硅(gui)功率(lv)晶體管(guan)(guan)，GaAs MESFET&HEMT&HBT ，JFET，MOSFET，光電偶合器(qi)，VDMOS功率管，IGBT，特種器件等。