主要技術(shu)特色
a.iASA(improved ASA) 改進的(de)ASA測試:
該(gai)技術已(yi)經通過國家發明專(zhuan)利初審。
在(zai)(zai)無(wu)圖紙電(dian)(dian)路板故(gu)障檢測中,ASA曲線測試技術無(wu)疑(yi)最流行、最強(qiang)大(da)、最好用。iASA克服(fu)了ASA在(zai)(zai)零電(dian)(dian)壓附近的(de)測試盲(mang)區,提(ti)高了故(gu)障檢出率;
b.ASA動(dong)態參考
該技(ji)術正(zheng)在申請國(guo)家發明專利。
使用ASA檢測IC器件(jian)質(zhi)量的問(wen)題之(zhi)一是,存在著不穩(wen)定(ding)曲線(xian)(xian)——同(tong)一器件(jian)的同(tong)一管腳,每(mei)次測試(shi)得到的曲線(xian)(xian)偏差(cha)很大。這(zhe)種情況(kuang)在測試(shi)CMOS類(lei)器件(jian)時更常(chang)見一些。動(dong)態(tai)參考技術可(ke)以有效地解決該(gai)問(wen)題。
c.器件疑似故(gu)障(zhang)度(du)測(ce)算
解放軍某學院曹(cao)教(jiao)授發(fa)明,將申請(qing)國家發(fa)明專(zhuan)利。
在無圖紙電(dian)路板故(gu)障檢測中,ASA曲線測試只能將故(gu)障定位到電(dian)路結點,由(you)結點到具體器件(jian)(jian)需(xu)要(yao)人(ren)工處理(li)。該技術在一(yi)定條(tiao)件(jian)(jian)下,能夠給(gei)出器件(jian)(jian)發生故(gu)障的可能性(xing)。該技術可降低對(dui)維修者的技術要(yao)求(qiu),有利于(yu)實現測試自動化。
d.IC器(qi)件直流參數測試
在(zai)IC器(qi)件(jian)(jian)(jian)質量檢(jian)測(ce)中,ASA測(ce)試(shi)(shi)(shi)、功能測(ce)試(shi)(shi)(shi)屬(shu)于(yu)定(ding)性測(ce)試(shi)(shi)(shi),主(zhu)要檢(jian)測(ce)器(qi)件(jian)(jian)(jian)“壞沒壞”;參數測(ce)試(shi)(shi)(shi)屬(shu)于(yu)定(ding)量測(ce)試(shi)(shi)(shi),能夠(gou)進一步檢(jian)測(ce)器(qi)件(jian)(jian)(jian)“好不好”。HN1600DX/B能夠(gou)按照器(qi)件(jian)(jian)(jian)技(ji)術(shu)標準(zhun)的(de)規定(ding),測(ce)試(shi)(shi)(shi)器(qi)件(jian)(jian)(jian)的(de)主(zhu)要直流參數是否(fou)達標。目前能夠(gou)測(ce)試(shi)(shi)(shi)的(de)器(qi)件(jian)(jian)(jian)包括(kuo)各種邏輯器(qi)件(jian)(jian)(jian)、光耦、運(yun)放等。
e.(半)自動(dong)化測(ce)試(shi)系(xi)統
HN2600DX/C已經(jing)實現了控制某種(單)飛針測(ce)試(shi)設備對電路板(ban)進行(xing)iASA測(ce)試(shi)。不(bu)僅大幅提(ti)高測(ce)試(shi)效率,同(tong)時較好解(jie)決了小腳距、高密(mi)度封裝的測(ce)試(shi)問題。
尺寸: | 尺寸:560mm×170mm×390mm 重量(liang):14Kg
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ASA測試信號發生: | 并行雙路; 輸(shu)出信號幅度:±1.0V——±28V,步距:信號幅度/256; 輸出(chu)阻抗:0.1K/1K/10K/100K; @Vpp<=15.0V;1K/10K/100K@ Vpp>15.0V; 最大(da)短路電流:150mA; @Vpp<=15.0V;28mA@ Vpp>15.0V; 測試信號頻率:0.5——16KHz分檔可設;
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模擬(ni)通道: | 通道數量:160; 最大電(dian)壓:±28V; 通道屬性:雙屬性; 通道電阻:<1毫歐;
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精密直流參數(shu)測(ce)試單元: | 數量:2個(ge); 電壓范圍:±3mV——±12.0V; 電流(liu)范圍:±3uA——±120mA;
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數字器件功(gong)能測試通道:: | 測試通(tong)道:40個(ge);總線隔(ge)離(li)通(tong)道:8個(ge); 輸出脈沖(chong)幅度:全電(dian)平(ping)——滿足測(ce)試(shi)最大±12V邏輯(ji)電(dian)平(ping)標準期間的要求(qiu); 最大通道(dao)電流(liu):>200mA/通道(dao); 最大測試頻(pin)率(lv):45Kvec/S
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外供電源: | +3.3V、+5V、+12V、-12V;
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