主要測試功能(neng)：

a． 探棒直接測試（ASA曲線）

用(yong)一根(gen)探(tan)棒測試、或用(yong)兩根(gen)探(tan)棒對照測試器件管腳iASA特征(zheng)。“直接測試”意味(wei)著(zhu)不(bu)在電腦中存儲數據，現學(xue)現比，像使用(yong)萬(wan)用(yong)表一樣(yang)簡單(dan)、方便，主要用(yong)于檢測不(bu)會重(zhong)復(fu)維修、因此無(wu)需(xu)建庫的電路板。

HN1600/4840不(bu)支持(chi)“多端口”測(ce)試方式。

b．電(dian)路板圖(tu)像建(jian)庫測試

“建庫(ku)測(ce)試(shi)”指(zhi)把測(ce)試(shi)的(de)iASA特征存儲在電(dian)腦中，供日(ri)后使用，就(jiu)像(xiang)手(shou)邊總有一塊好(hao)板(ban)；“圖(tu)像(xiang)建庫(ku)測(ce)試(shi)”指(zhi)無論(lun)是測(ce)試(shi)好(hao)板(ban)特征、還是比對好(hao)、壞板(ban)的(de)特征，都在被測(ce)試(shi)電(dian)路板(ban)的(de)圖(tu)像(xiang)上進行。方(fang)便(bian)直觀，所見所得。

HN1600/4840不支持“多(duo)端口”測試方式。

c．邏輯器件（在、離線功能）測(ce)試(shi)

支持在、離線檢測器件庫中的邏輯器件功能好壞。不存儲測試結果。器件庫中有約萬余種器件型號。早期電路維修測試儀最主要的測試功能；

d．存儲(chu)器件(jian)（在、離線功能）測試

支(zhi)持(chi)使對器(qi)件庫中(zhong)的SRAM、DRAM、PROM、EPROM等存(cun)儲器(qi)件進行功(gong)能好(hao)壞(huai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)。不(bu)存(cun)儲測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結果。器(qi)件庫中(zhong)有約3000余種器(qi)件型號(hao)。早期電路維修測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀的主要測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)功(gong)能之(zhi)一；

e．用(yong)戶自定(ding)義測試

支持自定(ding)義通(tong)(tong)道(dao)(dao)輸出信號、從指定(ding)通(tong)(tong)道(dao)(dao)讀回外部信號，由此(ci)實現用戶(hu)定(ding)義的測試(shi)。存儲測試(shi)結果。同時支持數字通(tong)(tong)道(dao)(dao)和模擬通(tong)(tong)道(dao)(dao)。