Keithley 標準系(xi)列 2400 源測量單元 (SMU) 儀(yi)器提供四(si)象限(xian)精密電壓(ya)和(he)電流源/負載,外(wai)加測量。每個 SMU 儀器均同時提(ti)供(gong)高度穩定的(de)直(zhi)流電源和一臺真正(zheng)的儀器(qi)級 6½ 位萬(wan)用表(biao)。電源特性包(bao)括(kuo)低噪聲、高精度(du)和回讀(du)。萬用表的功(gong)能包括高重(zhong)復性和低噪聲。
用于(yu) I-V 檢定的(de)精密儀器
較之(zhi)單獨的儀器,SourceMeter 儀器的緊密耦合(he)特(te)性具有諸多優(you)勢。由(you)于能夠(gou)將(jiang)信號源和(he)儀表安裝在半機架(jia)式外殼(ke)中,從而節省(sheng)寶(bao)貴的(de)機架空間,并簡化遠程(cheng)編程接(jie)口。
特點:
用于在各(ge)種設備和材料上進行 I-V 檢定(ding)的精密儀器
SMU 可以輸出電流或(huo)電壓
SMU 可以測量電(dian)流(liu)和電壓
通過內置電壓/電流掃描功能(neng)大(da)(da)大(da)(da)加快吞吐量
SourceMeter 儀(yi)器提供的掃描解(jie)決方案(an)可通過(guo)自動化掛(gua)鉤極大地加快測試(shi)速度,從而進(jin)一步提高吞(tun)吐量。無論您(nin)是(shi)對(dui)晶體(ti)管(guan)執行掃描、僅驗(yan)證連接器完(wan)整性(xing)、檢定器(qi)件(jian)性(xing)能(neng),還(huan)是實際上以高精度進(jin)行任何直流(liu)伏安(an)檢定,均是如此。
特點:
線性階梯掃描(miao)
對數階梯掃描
自定義掃描(miao)
與開(kai)關系統集成(cheng)以(yi)進行快速多點測試(shi)
SourceMeter 系列(lie)儀器功能(neng)廣泛,因此(ci)能(neng)夠為(wei)許多行業的(de)各種(zhong)應用提(ti)供出色的解決方案。為(wei)在快速多點測試(shi)應用中實現無縫集成,請將 SourceMeter 儀器與 Keithley 開關系(xi)統結合(he)使用(yong)。
特(te)點:
測試半導體設備
測試電(dian)路保護裝置
測試(shi)光電組(zu)件
用于加速壓力(li)測試(shi)
幫助工科學(xue)生準備好將想法變成現實
Keithley SourceMeter SMU 非常適用(yong)于向學生傳授歐姆定律(lv)和 I-V 檢定概念(nian)以(yi)供實(shi)驗(yan)室(shi)練習,從而更(geng)好地了(le)解電子設備的行(xing)為和使(shi)用(yong)方式(shi)。SMU 為學生(sheng)提(ti)供所需(xu)經(jing)驗,從而讓(rang)其整(zheng)裝待發,應對行業挑戰(zhan)。
特點:
將 5 種儀器的功能集一(yi)身
簡化教學實驗(yan)工作臺
有益(yi)于研(yan)究(jiu)生科(ke)研(yan)
型號 | 觸(chu)摸屏 | 通道 | 最大電流源/量程 | 最大電壓(ya)源/量程(cheng) | 測(ce)量分辨(bian)率(電(dian)流/電壓) | 電(dian)源(yuan) |
| 否(fou) | 1 | 1A | 20V | 1pA / 100nV | 20 W |
| 否 | 1 | 1A | 200V | 1pA / 100nV | 20 W |
| 否 | 1 | 3A | 60V | 10pA / 100nV | 60 W |
| 否 | 1 | 1A | 1100V | 1pA / 100nV | 20 W |
| No | 1 | 5A | 40V | 10pA / 100nV | 50 W |