Keithley 標準系列 2400 源測量(liang)單元 (SMU) 儀器(qi)提供四象限精密(mi)電壓和電流源/負(fu)載，外加(jia)測量(liang)。每(mei)個(ge) SMU 儀器均(jun)同時提供高度(du)穩定的直流電(dian)源(yuan)和一臺(tai)真(zhen)正的儀器級 6½ 位萬用表。電源特性包括低噪(zao)聲、高精度和回讀。萬用表的功能包括高重復性和(he)低噪聲(sheng)。

用于 I-V 檢定(ding)的精密儀器

較之單(dan)獨的儀(yi)器，SourceMeter 儀器(qi)的緊密耦合(he)特(te)性具有諸多優(you)勢。由于能(neng)夠將信號源(yuan)和儀表(biao)安裝在半機架式外(wai)殼中，從而節省寶(bao)貴的機(ji)架(jia)空間，并簡化遠程編程接(jie)口。

特點：

用于在各(ge)種設備和(he)材料上進行(xing) I-V 檢定的精(jing)密儀器

SMU 可(ke)以輸(shu)出電流或電(dian)壓(ya)

SMU 可(ke)以測量電流和電壓(ya)

通過內置(zhi)電壓/電流掃描功能大大加快吞(tun)吐量

SourceMeter 儀器(qi)提供的(de)掃(sao)描解決方(fang)案可通過(guo)自動化掛鉤極大地加快測試(shi)速(su)度，從(cong)而進一步提高吞吐(tu)量。無論您是(shi)對晶體管執行掃描、僅(jin)驗證連接器完整性、檢定器件性(xing)能，還是(shi)實際上(shang)以高(gao)精度(du)進行任何直(zhi)流伏安檢定，均是(shi)如(ru)此。

特點(dian)：

線性階梯(ti)掃(sao)描

對數階梯掃描

自(zi)定(ding)義掃描

與開關系統(tong)集(ji)成以進行快(kuai)速多(duo)點測(ce)試

SourceMeter 系(xi)列儀(yi)器功能廣泛，因(yin)此能夠為許多(duo)行業的各種應用提(ti)供出色的解決方案(an)。為(wei)在快速多(duo)點測(ce)試應用中實現無縫集成，請將 SourceMeter 儀器與 Keithley 開關(guan)系統結合使(shi)用。

特點(dian)：

測試(shi)半導體(ti)設備(bei)

測試(shi)電路保護裝置

測(ce)試光電組件

用于加速(su)壓力測(ce)試

幫助工科學生準備好將想法變成現(xian)實

Keithley SourceMeter SMU 非(fei)常適用(yong)于向學生傳授(shou)歐姆定律(lv)和 I-V 檢定概念以供實驗(yan)室練習，從而(er)更好(hao)地了解電子設(she)備(bei)的行為和使用方式(shi)。SMU 為(wei)學生提供所需經驗，從而讓其整(zheng)裝待發，應對(dui)行業挑戰。

特(te)點(dian)：

將(jiang) 5 種(zhong)儀器(qi)的功能集一身

簡化教(jiao)學實驗工作臺(tai)

有益于(yu)研(yan)究(jiu)生科研(yan)